Chamber type LF Tester
주요특징
- Chamber Type으로 Low-Frequency Memory Test 지원
- 극한환경 설정을 통한 신뢰성 강화
- 대용량 Parallel을 채용하여 획기적으로 효율성 증대
기본사양
- Target DevicesDRAM (DDR, Mobile, Graphic)
- Test Speed~ 200 MHz
- Digital Unit50,688 Ch/System
- Power Unit23,616 Ch/System
- Parallel11,520 Para
- System2 Chamber, 4 Rack, 48 Slot
- Operation Temperature Range-20℃ ~ 150℃
- Board Cooling MethodLiquid
- Operating SystemLinux
- 거래처
- Chamber Type으로 Low-Frequency Memory Test 지원
- 극한환경 설정을 통한 신뢰성 강화
- 대용량 Parallel을 채용하여 획기적으로 효율성 증대
i1000 Series
주요특징
- DDR4,5 Module Full Function Test 및 DC Test 지원
- TOF Function 최대 200MHz Test (Cell & Core Test)
- Per Site Operation Testing
- Auto Calibration 지원
- SPD Function 지원
- Cycle Pallet All Pin 지원
기본사양
- Test DeviceDDR4,5 Module / RDIMM, UDIMM, SODIMM
- Max Frequency1200MHz/2400Mbps
- Parallelism16para Multi-Site/Station
- Digital Unit2944Ch/System (Per pin PMU 내장)
- Power UnitPPS - 640Ch/System, VPMIC - 16Ch/System (High Voltage & High Current)
- Cooling MethodLiquid cooing
- Operating SystemLinux
- 거래처
- DDR4,5 Module Full Function Test 및 DC Test 지원
- TOF Function 최대 200MHz Test (Cell & Core Test)
- Per Site Operation Testing
- Auto Calibration 지원
- SPD Function 지원
- Cycle Pallet All Pin 지원
i7000 Series
주요특징
- DDR4,5 Component Full Function Test 및 DC Test 지원
- TOF Function 최대 200MHz Test (Cell & Core Test)
- Per Site Operation Testing
- Auto Calibration 지원
- Cycle Pallet All Pin 지원
기본사양
- Test DeviceDDR4,5 Component
- Max Frequency1200MHz/2400Mbps
- Parallelism512para/Station
- Digital Unit5888Ch/System (Per pin PMU 내장)
- Power UnitPPS - 1280Ch/System
- Cooling MethodLiquid cooing
- Operating SystemLinux
- 거래처
- DDR4,5 Component Full Function Test 및 DC Test 지원
- TOF Function 최대 200MHz Test (Cell & Core Test)
- Per Site Operation Testing
- Auto Calibration 지원
- Cycle Pallet All Pin 지원