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Global Test Solution Provider

반도체 테스터의 국산화
주도해가겠습니다.

i1000 Series
i1000 Series

주요특징

  • DDR4,5 Module Full Function Test 및 DC Test 지원
  • TOF Function 최대 200MHz Test (Cell & Core Test)
  • Per Site Operation Testing
  • Auto Calibration 지원
  • SPD Function 지원
  • Cycle Pallet All Pin 지원

기본사양

  • Test DeviceDDR4,5 Module / RDIMM, UDIMM, SODIMM
  • Max Frequency1200MHz/2400Mbps
  • Parallelism16para Multi-Site/Station
  • Digital Unit2944Ch/System (Per pin PMU 내장)
  • Power UnitPPS - 640Ch/System, VPMIC - 16Ch/System (High Voltage & High Current)
  • Cooling MethodLiquid cooing
  • Operating SystemLinux
거래처
DDR4,5 Module Full Function Test 및 DC Test 지원
TOF Function 최대 200MHz Test (Cell & Core Test)
Per Site Operation Testing
Auto Calibration 지원
SPD Function 지원
Cycle Pallet All Pin 지원
i7000 Series
i7000 Series

주요특징

  • DDR4,5 Component Full Function Test 및 DC Test 지원
  • TOF Function 최대 200MHz Test (Cell & Core Test)
  • Per Site Operation Testing
  • Auto Calibration 지원
  • Cycle Pallet All Pin 지원

기본사양

  • Test DeviceDDR4,5 Component
  • Max Frequency1200MHz/2400Mbps
  • Parallelism512para/Station
  • Digital Unit5888Ch/System (Per pin PMU 내장)
  • Power UnitPPS - 1280Ch/System
  • Cooling MethodLiquid cooing
  • Operating SystemLinux
거래처
DDR4,5 Component Full Function Test 및 DC Test 지원
TOF Function 최대 200MHz Test (Cell & Core Test)
Per Site Operation Testing
Auto Calibration 지원
Cycle Pallet All Pin 지원
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